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(Referência obtida automaticamente do Google Scholar, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Atomic scale patterns formed during surface scanning by atomic force microscopy tips

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Autor(es):
Teschke‚ O. ; Soares‚ D.M. ; Valente Filho‚ J.F. ; de Souza‚ E.F.
Número total de Autores: 4
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: Applied Physics Letters; v. 89, n. 25, p. 253125-253125, 2006.
Processo FAPESP: 03/12529-4 - Nanotecnologia: fabricação de nanoestruturas e estruturas supramoleculares em meio líquido: observação das estruturas formadas e investigação dos processos de formação de nanoestruturas
Beneficiário:Omar Teschke
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Temático