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(Referência obtida automaticamente do Google Scholar, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores.)

Grazing incidence X-ray diffraction and atomic force microscopy analysis of BaBi2 Ta2 O9 thin films

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Autor(es):
Mastelaro‚ V.R. ; Foschini‚ C.R. ; Varela‚ J.A.
Número total de Autores: 3
Tipo de documento: Artigo Científico
Fonte: Thin Solid Films; v. 415, n. 1, p. 57-63, 2002.
Processo FAPESP: 00/01991-0 - Síntese e caracterização de filmes finos e cerâmicas ferroelétricos
Beneficiário:José Arana Varela
Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Temático
Processo FAPESP: 98/13678-3 - Caracterização microestrutural de filmes finos ferroelétricos de BBT (BaBi2Ta2O9)
Beneficiário:Cesar Renato Foschini
Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado