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Difração dinâmica de raios X com fontes avançadas de radiação síncrotron: metodologias para aplicações em sistemas biológicos e materiais tecnológicos

Processo: 21/01004-6
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Doutorado Direto
Vigência (Início): 01 de agosto de 2021
Vigência (Término): 28 de fevereiro de 2026
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
Pesquisador responsável:Sérgio Luiz Morelhão
Beneficiário:Rafaela Felix da Silva Penacchio
Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Cristalografia   Cristais de aminoácidos   Difração por raios X   Radiação síncrotron   Hidrogênio   Aminoácidos   Íons metálicos   Materiais termoelétricos
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:cristais de aminoácidos | cristais termoelétricos | danos por radiação | difração dinâmica de raios X | ligações de hidrogêncio | cristalografia

Resumo

A difração dinâmica de raios X oferece possibilidades inéditas em termos de resolução estrutural. Entretanto, a técnica de medir difrações simultâneas é limitada pela necessidade de prever com antecedência as condições experimentais ideias para resolver os detalhes estruturais relevantes às propriedades dos sistemas; detalhes esses inacessíveis por métodos convencionais. A partir de variações em estruturas modelo, foram desenvolvidas (em projeto de iniciação científica da aluna) ferramentas computacionais específicas que permitem mostrar se determinados detalhes das estruturas, tais como pequenas flutuações de cargas iônicas e diferenças em parâmetros de deslocamento atômico, podem ser resolvidos pela técnica em questão. Neste projeto, utilizando essas ferramentas e experimentos com radiação síncrotron, as possibilidades da difração dinâmica de raios X serão extensivamente investigadas em estudos desafiadores como detectar a carga de elétrons e danos por radiação nas ligações de hidrogênio em aminoácidos puros e dopados com íons metálicos e desvendar o mecanismo de dispersão de fônons em materiais termoelétricos da classe das skutteruditas. (AU)

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Publicações científicas
(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
PENACCHIO, RAFAELA F. S.; FORNARI, CELSO, I; CAMILLO, YORI G.; KAGERER, PHILIPP; BUCHBERGER, SEBASTIAN; KAMP, MARTIN; BENTMANN, HENDRIK; REINERT, FRIEDRICH; MORELHAO, SERGIO L.. Statistical modeling of epitaxial thin films of an intrinsic antiferromagnetic topological insulator. Thin Solid Films, v. 750, p. 13-pg., . (19/01946-1, 21/01004-6)

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