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Obtenção de memórias com LaNiO3 e LaNiO3/BaTiO3 utilizando PLD

Processo: 14/01371-5
Modalidade de apoio:Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
Vigência (Início): 01 de maio de 2014
Vigência (Término): 30 de abril de 2019
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
Acordo de Cooperação: Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
Pesquisador responsável:Elson Longo da Silva
Beneficiário:Leonélio Cichetto Junior
Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:13/07296-2 - CDMF - Centro de Desenvolvimento de Materiais Funcionais, AP.CEPID
Bolsa(s) vinculada(s):17/23663-6 - Irradiação por laser de femtossegundos em filmes finos de LaNiO3 depositados por PLD para estudo das propriedades estruturais e físicas para aplicação em memorias ferroelétricas, BE.EP.PD
Assunto(s):Filmes finos
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Deposiçao por laser pulsado | Filmes finos | Memórias ferroelétricas | perovskita | Filmes Finos

Resumo

O composto niquelato de lantânio, LaNiO3 (LNO), é um interessante material devido as suas extensas e promissoras aplicações como eletrodo em vários dispositivos. O LaNiO3 sofre uma transição de fase de romboédrica para a fase cúbica em altas temperaturas e, além disso, apresenta um comportamento do tipo metálico e paramagnetismo de Pauli em uma vasta região de temperatura. Recentemente surgiu um enorme interesse na fabricação de filmes finos nanoestruturados com a utilização de cerâmicas policristalinas como o LaNiO3, esta motivação tem levado à descoberta de propriedades ainda não bem compreendidas como o aumento da condutividade, que é ideal para aplicações como eletrodo inferior em dispositivos de memoria e a indicação de supercondutividade em heteroestruturas. Por outro lado, o titanato de bário, BaTiO3, apresenta interessantes propriedades como piezoeletricidade e alto valor de constante dielétrica, podendo ser empregado como dielétrico na fabricação de memórias dielétricas/ferroelétricas. Um estudo detalhado do sistema LaNiO3 e LaNiO3/ BaTiO3, em filmes finos, depositados por uma técnica precisa e confiável é de fundamental importância e relevância para melhor compreensão de suas propriedades físicas e químicas em futuras aplicações como, por exemplo, na construção de materiais fotoluminescentes e memórias FeRAM. Este trabalho visa estudar a deposição de filmes finos do sistema LaNiO3 e LaNiO3/ BaTiO3 fabricados por intermédio da técnica conhecida como Pulsed Laser Deposition (PLD), em diferentes substratos (SrTiO3, MgO, LaAlO3 e SrLaAlO4). Estes materiais serão caracterizados por difração de raios X, microscopia eletrônica de varredura, microscopia de força atômica e medidas de resistividade elétrica a baixas temperaturas que, combinadas, podem fornecer um melhor entendimento das propriedades físicas deste sistema fortemente correlacionado. (AU)

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(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)
SERGEENKOV, S.; CICHETTO, JR., L.; LONGO, E.; ARAUJO-MOREIRA, F. M.. Evidence for resonant scattering of electrons by spin fluctuations in LaNiO3/LaAlO3 heterostructures grown by pulsed laser deposition. JETP LETTERS, v. 102, n. 6, p. 383-386, . (14/01371-5, 13/07296-2)
SERGEENKOV, S.; CICHETTO, JR., L.; ZAMPIERI, M.; LONGO, E.; ARAUJO-MOREIRA, F. M.. Scaling like behaviour of resistivity observed in LaNiO3 thin films grown on SrTiO3 substrate by pulsed laser deposition. JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER, v. 27, n. 48, . (14/01371-5, 13/07296-2)
DE CAMPOS DA COSTA, JOAO PAULO; CICHETTO JUNIOR, LEONELIO; DE ARAUJO, ESTACIO PAIVA; ARANTES, ADRYELLE DO NASCIMENTO; LONGO, ELSON; CHIQUITO, ADENILSON JOSE; CARMO, JOAO PAULO. Graphite-Based Multianalyte VOC Gas Detection on Multichannel PCB IDE Sensor. IEEE SENSORS JOURNAL, v. 22, n. 22, p. 8-pg., . (14/01371-5, 13/07296-2, 19/18656-6, 17/23663-6)
AMORESI, RAFAEL A. C.; CICHETTO JR, LEONELIO; GOUVEIA, AMANDA F.; COLMENARES, YORMARY N.; TEODORO, MARCIO D.; MARQUES, GILMAR E.; LONGO, ELSON; SIMOES, ALEXANDRE Z.; ANDRES, JUAN; CHIQUITO, ADENILSON J.; et al. Metallic behavior in STO/LAO heterostructures with non-uniformly atomic interfaces. MATERIALS TODAY COMMUNICATIONS, v. 24, p. 10-pg., . (17/23663-6, 17/19143-7, 18/01914-0, 13/07296-2, 19/09296-6, 14/01371-5)
AMORESI, RAFAEL A. C.; CICHETTO JR, LEONELIO; KUNDU, SWARUP; TEODORO, MARCIO D.; MARQUES, GILMER E.; LONGO, ELSON; ANDRES, JUAN; CHIQUITO, ADENILSON J.; ZAGHETE, MARIA A.. Direct preparation of standard functional interfaces in oxide heterostructures for 2DEG analysis through beam-induced platinum contacts. Applied Physics Letters, v. 113, n. 13, . (17/13024-6, 14/01371-5, 17/23663-6)
SERGEENKOV, S.; CORDOVA, C.; CICHETTO, JR., L.; DE LIMA, O. F.; LONGO, E.; ARAUJO-MOREIRA, F. M.. Anomalous temperature behavior of resistance in C1-xCox thin films grown by pulsed laser deposition technique. Journal of Alloys and Compounds, v. 667, p. 18-22, . (14/01371-5, 13/07296-2)
SERGEENKOV, S.; CICHETTO, JR., L.; DIAZ, J. C. C. A.; BASTOS, W. B.; LONGO, E.; ARAUJO-MOREIRA, F. M.. Manifestation of unusual size effects in granular thin films prepared by pulsed laser deposition. JOURNAL OF PHYSICS AND CHEMISTRY OF SOLIDS, v. 98, p. 38-42, . (13/07296-2, 14/01371-5)
COSTA, I. M.; CUNHA, T. R.; CICHETTO JR, L.; ZAGHETE, M. A.; CHIQUITO, A. J.. Investigation on the optical and electrical properties of undoped and Sb-doped SnO2 nanowires obtained by the VLS method. PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES, v. 134, . (19/12383-8, 17/23663-6, 13/07296-2, 14/01371-5)

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