Desenvolvimento de método de análises quantitativas diretas de materiais silicosos: espectrometria de emissão óptica com plasma induzido por laser e fluorescência de raio-x por reflexão total

Resumo

Considerando a característica refratária de grande parte de amostras silicosas, tais como rochas e escórias que requerem uso de diferentes misturas ácidas, elevada pressão e temperatura para alcançar a dissolução quantitativa que nem sempre acontece, a possibilidade em realizar análise direta parece ser uma ótima alternativa. A espectrometria de emissão óptica com plasma induzido por laser (LIBS) tem se tornado uma técnica muito atrativa e bastante explorada na análise química e, por apresentar todas as características relacionadas às técnicas de análise direta, essa técnica possibilita análise de amostras sólidas sem a necessidade de convertê-la em solução. A grande dificuldade, no entanto, é a realização de análises quantitativas nas amostras complexas, pois a natureza complexa dos processos de interação entre o laser e amostra, e entre as partículas e o plasma causam efeitos de matriz indesejáveis. Nesses casos, a adequada calibração do método, aliada à otimização instrumental e dos parâmetros da amostra são imperativas. Considerando o desafio associado à realização de análise quantitativa de matrizes complexas por LIBS, o objetivo do presente projeto é avaliar a viabilidade e desenvolver método para realizar medições quantitativas de alguns macro e microelementos em amostras silicosas como rochas e escórias. Nesse projeto pretende também avaliar e comparar o desempenho da fluorescência de raio-X (TXRF) por reflexão total na análise direta dessas amostras. Embora a TXRF seja uma técnica muito empregada em análises de amostras sólidas, a influência do tamanho de partícula sobre os resultados analíticos, bem como a interferência de elementos majoritários sobre os minoritários precisam ser melhor entendidas e alternativas analíticas para viabilizar essas análises devem ser propostas. (AU)