Auxílio à pesquisa 20/10174-0 - Chapas de aço, Aço elétrico - BV FAPESP
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Processamento e caracterização microestrutural da liga Fe-3%Si obtida via manufatura aditiva e subsequente processamento termomecânico: uma abordagem híbrida inovadora

Processo: 20/10174-0
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Regular
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Metalurgia Física
Pesquisador responsável:Hugo Ricardo Zschommler Sandim
Beneficiário:Hugo Ricardo Zschommler Sandim
Instituição Sede: Escola de Engenharia de Lorena (EEL). Universidade de São Paulo (USP). Lorena , SP, Brasil
Assunto(s):Chapas de aço  Aço elétrico  Crescimento anormal de grãos austeníticos  Fusão a laser em leito de pó  Mudança de fase  Recristalização  Difração de elétrons  Microscopia eletrônica de transmissão 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:acos eletricos | crescimento anormal de grão | Ebsd | estratégia de escaneamento | fusão a faser em leito de pó | Recristalização | Transformação de fases

Resumo

Este projeto objetiva a obtenção de chapas finas de um aço elétrico (Fe-3%Si) por meio de uma abordagem híbrida inovadora envolvendo o processamento via fusão a laser em leito de pó (LPBF) seguido de processamento termomecânico tradicional. O pó utilizado será caracterizado na condição de partida. A partir de sua composição química, cálculos termodinâmicos computacionais serão realizados para previsão e quantificação das fases formadas. As chapas processadas por fusão a laser em leito de pó com potência do feixe variando entre 180 e 400 W utilizarão, em princípio, estratégias de escaneamento com e sem rotação de 90° entre as camadas para intensificar a textura próxima a Goss e/ou cubo. Após o processamento LPBF, as placas construídas serão laminadas a frio e recozidas para o acompanhamento posterior dos processos de recristalização primária e crescimento anormal de grão. A caracterização microestrutural será realizada nas amostras nas condições "como processada", "como laminada" e "como recozida" por meio de microscopias ótica e eletrônica de varredura. A microtextura de áreas representativas das amostras será determinada por difração de elétrons espalhados (EBSD) e a visualização da estrutura de discordâncias será realizada por meio de imagens obtidas por contraste de canalização de elétrons (ECCI). A caracterização da dispersão de nanopartículas na condição como-processada será realizada com o auxílio de microscopia eletrônica de transmissão (MET) e a densidade de discordâncias será estimada via medidas de difração de raios X via método modificado de Williamson-Hall. (AU)

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