| Processo: | 19/23181-7 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários |
| Vigência: | 01 de dezembro de 2019 - 30 de novembro de 2026 |
| Área do conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Química - Química Inorgânica |
| Pesquisador responsável: | Ana Flávia Nogueira |
| Beneficiário: | Ana Flávia Nogueira |
| Instituição Sede: | Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 17/11986-5 - Divisão de Pesquisa 1 - Portadores Densos de Energia, AP.PCPE |
| Assunto(s): | Eletrônica orgânica Microscopia de força atômica Microscopia Filmes finos |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Eletrônica Orgânica | Filmes finos | materiais | microscopia de força atomica | Morfologia | Microscopia |
| As informações de acesso ao Equipamento Multiusuário são de responsabilidade do Pesquisador responsável | |
| Página web do EMU: | Página do Equipamento Multiusuário não informada |
| Tipo de equipamento: | Caracterização de Materiais - Análises de Superficies - Microscopia de sonda (AFM, STM) |
| Fabricante: | Fabricante não informado |
| Modelo: | Modelo não informado |
Resumo
A microscopia de força atômica é uma microscopia muito utilizada para análise da superfície de filmes, com particularidade de filmes orgânicos, como polímeros e filmes muito finos, como filmes de grafeno. A microscopia de força Kelvin é uma variante dessa microscopia no modo não contato e importante para analisar áreas com potenciais diferentes na superfície do filme, podendo então localizar regiões de maior ou menor densidade eletrônica. Essa variante da microscopia de AFM tradicional mede a função trabalho entre amostra e contato. Com a nova configuração que está sendo solicitada será possível realizar imagens com maior resolução tanto para a identificação de diferentes fases, componentes, como também com muita maior sensibilidade para as medidas de Kelvin. (AU)
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