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Equipamento multiusuário aprovado no Projeto FAPESP 2017/11986-5: controlador de interface do microscópio de força atômica

Processo: 19/23181-7
Linha de fomento:Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários
Vigência: 01 de dezembro de 2019 - 30 de novembro de 2026
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Química - Química Inorgânica
Pesquisador responsável:Ana Flávia Nogueira
Beneficiário:Ana Flávia Nogueira
Instituição-sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Vinculado ao auxílio:17/11986-5 - Divisão de Pesquisa 1 - portadores densos de energia, AP.PCPE
Assunto(s):Eletrônica orgânica  Microscopia de força atômica  Microscopia  Filmes finos 
As informações de acesso ao Equipamento Multiusuário são de responsabilidade do Pesquisador responsável
Página web do EMU: Página do Equipamento Multiusuário não informada
Tipo de equipamento:Caracterização de Materiais - Análises de Superficies - Microscopia de sonda (AFM, STM)
Fabricante: Fabricante não informado
Modelo: Modelo não informado

Resumo

A microscopia de força atômica é uma microscopia muito utilizada para análise da superfície de filmes, com particularidade de filmes orgânicos, como polímeros e filmes muito finos, como filmes de grafeno. A microscopia de força Kelvin é uma variante dessa microscopia no modo não contato e importante para analisar áreas com potenciais diferentes na superfície do filme, podendo então localizar regiões de maior ou menor densidade eletrônica. Essa variante da microscopia de AFM tradicional mede a função trabalho entre amostra e contato. Com a nova configuração que está sendo solicitada será possível realizar imagens com maior resolução tanto para a identificação de diferentes fases, componentes, como também com muita maior sensibilidade para as medidas de Kelvin. (AU)